Записи с меткой ‘failure’

ВЕРОЯТНОСТЬ ОТКАЗА ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ИМПУЛЬСНОГО РАДИОИЗЛУЧЕНИЯ

January 15, 2013

Солодов А. В.

Федеральное государственное унитарное предприятие «Московский радиотехнический институт Российской Академии наук» Варшавское шоссе, 132, г. Москва, 117519, Россия тел. 315-62-42, e-mail: avs56@nm.ru

Аннотация – Предложено теоретическое развитие модели накопления повреждений для объяснения наблюдаемых эффектов повреждения интегральных микросхем (ИМС) полиимпульсным радиоизлучением. Получены аналитические выражения вероятности и энергии повреждения прибора от частоты повторения радиоимпульсов.

» Читать запись: ВЕРОЯТНОСТЬ ОТКАЗА ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ИМПУЛЬСНОГО РАДИОИЗЛУЧЕНИЯ

микросхемы мощности Устройство импульсов питания пример приемника провода витков генератора выходе напряжение напряжения нагрузки радоэлектроника работы сигнал сигнала сигналов управления сопротивление усилитель усилителя усиления устройства схема теория транзистора транзисторов частоты