Записи с меткой ‘разрешением’

СКАНИРУЮЩАЯ БЛИЖНЕПОЛЬНАЯ ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ, СПЕКТРОСКОПИЯ И НАНОЛИТОГРАФИЯ

June 28, 2012

Дряхлушин В. Ф. Институт физики микроструктур РАН, ГСП-105, Н. Новгород-603950, Россия Тел.: (8312)675535; e-mail: dvf(8>jpm.sci-nnov.ru

Аннотация В работе приведен обзор последних достижений в области сканирующей ближнепольной оптической микроскопии, спектроскопии и нанолитографии. Показана возможность получения изображения различных полупроводниковых, микроэлектронных и микробиологических структур с разрешением, существенно превышающим дифракционный предел. Рассмотрены возможности изучения локальных энергетических и геометрических свойств поверхности образца концентрации, диффузионных длин и спектра носителей заряда, картирования излучающих поверхностей полупроводниковых лазеров, распространения и преобразования поверхностных плазмонов с разрешением < 100 нанометров. Исследованы методы создания различных латеральных объектов с размерами < 30 50 нанометров с помощью ближнепольной оптической нанолитографии.

» Читать запись: СКАНИРУЮЩАЯ БЛИЖНЕПОЛЬНАЯ ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ, СПЕКТРОСКОПИЯ И НАНОЛИТОГРАФИЯ

микросхемы мощности Устройство импульсов питания пример приемника провода витков генератора выходе напряжение напряжения нагрузки радоэлектроника работы сигнал сигнала сигналов управления сопротивление усилитель усилителя усиления устройства схема теория транзистора транзисторов частоты